• Złoto: 121.01 €/g ▲ 0.08%
  • Srebro: 1.80 €/g ▲ 0.08%
  • Pallad: 36.65 €/g ▲ 0.02%
  • Platyna: 49.67 €/g ▼ 0.01%
  • Rod: 249.52 €/g ▲ 0.01%
  • Złoto: 121.01 €/g ▲ 0.08%
  • Srebro: 1.80 €/g ▲ 0.08%
  • Pallad: 36.65 €/g ▲ 0.02%
  • Platyna: 49.67 €/g ▼ 0.01%
  • Rod: 249.52 €/g ▲ 0.01%
  • Złoto: 121.01 €/g ▲ 0.08%
  • Srebro: 1.80 €/g ▲ 0.08%
  • Pallad: 36.65 €/g ▲ 0.02%
  • Platyna: 49.67 €/g ▼ 0.01%
  • Rod: 249.52 €/g ▲ 0.01%
  • Złoto: 121.01 €/g ▲ 0.08%
  • Srebro: 1.80 €/g ▲ 0.08%
  • Pallad: 36.65 €/g ▲ 0.02%
  • Platyna: 49.67 €/g ▼ 0.01%
  • Rod: 249.52 €/g ▲ 0.01%
  • Złoto: 121.01 €/g ▲ 0.08%
  • Srebro: 1.80 €/g ▲ 0.08%
  • Pallad: 36.65 €/g ▲ 0.02%
  • Platyna: 49.67 €/g ▼ 0.01%
  • Rod: 249.52 €/g ▲ 0.01%

CENNIKI

Aktualności

Analiza XRF i ICP-OES: dwie metody, jeden cel – dokładna wartość materiału

Spektrometr ICP-OES w laboratorium NOVITERA i przenośny analizator XRF Vanta mierzący stopy złota
Wróć
Wszystko o skupie odpadów metalowych

Udostępnij:

Jeśli materiał zawiera złoto, srebro, platynę, pallad lub inne cenne metale, sama masa nie wystarczy do określenia jego wartości. Ważne jest, aby wiedzieć, jakie metale znajdują się w materiale i jakie jest ich stężenie.

W tym celu NOVITERA wykorzystuje różne metody analityczne. Dwie z najważniejszych to analiza spektrometryczna XRF i analiza chemiczna ICP-OES. Czym się różnią, kiedy są stosowane i dlaczego prawidłowe przygotowanie próbki jest równie ważne jak sama analiza?

Czym jest analiza XRF i do czego służy?

XRF (fluorescencja rentgenowska) to szybka, nieniszcząca metoda oceny składu pierwiastkowego materiału.

W NOVITERA materiały mogą być badane za pomocą analizatora XRF Vanta. Urządzenie kieruje promieniowanie rentgenowskie na badany materiał i na podstawie sygnałów emitowanych przez poszczególne pierwiastki określa, jakie pierwiastki są obecne oraz ich przybliżone stężenie.

Wyniki można uzyskać w ciągu kilku sekund, bez chemicznego przygotowania próbki. Dzięki temu XRF jest szczególnie przydatny do wstępnej oceny materiałów, identyfikacji stopów i sortowania.

Jakie są ograniczenia analizy XRF?

XRF analizuje określony obszar i warstwę powierzchniową materiału, dlatego pojedynczy pomiar nie zawsze odzwierciedla skład całej partii.

Ma to szczególne znaczenie w przypadku materiałów niejednorodnych lub gdy konieczne jest bardzo dokładne określenie stężenia metalu w całej partii. W takich przypadkach wymagane jest przygotowanie reprezentatywnej próbki i analiza laboratoryjna.

Czym jest analiza ICP-OES?

ICP-OES to metoda laboratoryjna służąca do dokładnego ilościowego oznaczania stężenia określonych metali w przygotowanej próbce.

ICP-OES oznacza optyczną spektrometrię emisyjną ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej. Przygotowaną próbkę przekształca się w roztwór, który następnie trafia do plazmy o bardzo wysokiej temperaturze.

Atomy poszczególnych pierwiastków emitują charakterystyczne promieniowanie – swoisty świetlny „odcisk palca” każdego pierwiastka. Spektrometr mierzy to promieniowanie, umożliwiając określenie obecnych pierwiastków i ich dokładnego stężenia.

W laboratorium NOVITERA metodą ICP-OES określamy zawartość Au, Pt, Pd i Rh w analizowanych materiałach z dokładnością do części na milion (ppm).

Czym różnią się analizy XRF i ICP-OES?

Główne różnice dotyczą szybkości analizy, przygotowania próbki oraz rodzaju uzyskiwanego wyniku.

XRF szybko identyfikuje pierwiastki obecne w badanym obszarze i pozwala oszacować ich przybliżone stężenie. Badanie jest nieniszczące i nie wymaga chemicznego przygotowania próbki.

ICP-OES wykonuje się w laboratorium na odpowiednio przygotowanej reprezentatywnej próbce i wykorzystuje do dokładnego ilościowego oznaczania konkretnych metali.

Metody te nie konkurują ze sobą – służą do różnych zadań.

Dlaczego prawidłowe przygotowanie próbki jest ważne?

Prawidłowe przygotowanie próbki pomaga zapewnić, że wynik analizy możliwie dokładnie odzwierciedla skład całego materiału lub partii.

Na przykład metale szlachetne w partii rozdrobnionych komponentów elektronicznych mogą być rozmieszczone nierównomiernie. Zbadanie jednego przypadkowo wybranego fragmentu nie musi więc odzwierciedlać składu całej partii.

W przypadku materiałów niejednorodnych ważny jest cały proces:

przygotowanie materiału → homogenizacja → pobranie reprezentatywnej próbki → analiza laboratoryjna

Jak wybierana jest odpowiednia metoda analizy?

Metodę dobiera się w zależności od rodzaju materiału, jego jednorodności, wartości, przewidywanych korzyści ekonomicznych oraz wymaganej dokładności wyniku.

W niektórych przypadkach wystarczy szybka ocena XRF, w innych konieczne są przygotowanie próbki i szczegółowa analiza laboratoryjna ICP-OES.

Dlaczego dokładna analiza metali jest ważna przy określaniu wartości materiału?

Dokładne określenie składu pozwala ustalić ilość cennych metali zawartych w materiale i rzetelnie obliczyć jego wartość.

Przy skupie metali nawet kilka punktów procentowych lub ułamki procenta mogą powodować istotną różnicę w wartości, szczególnie w przypadku metali szlachetnych.

Dokładny skład → dokładna ilość cennego metalu → rzetelnie określona wartość materiału

Chcesz poznać skład swojego materiału?

Zamów analizę materiału lub skonsultuj się ze specjalistami laboratorium NOVITERA: [email protected]

Więcej informacji o usługach laboratoryjnych i cenach badań: novitera.lt/pl/uslugi

Subskrybuj newsletter i śledź ceny metali oraz aktualne analizy rynku!

Podając swój adres e-mail, potwierdzam, że wyrażam zgodę na otrzymywanie newslettera oraz na przetwarzanie moich danych w celach marketingu bezpośredniego zgodnie z polityką prywatności NOVITERA. W każdej chwili mogę zrezygnować z subskrypcji, klikając link w stopce newslettera.

    Wypełnij formularz zapytania, a nasz przedstawiciel skontaktuje się z Tobą.

    Przekazane przez Ciebie informacje pozwolą nam szybko odpowiadać na pojawiające się pytania oraz świadczyć profesjonalne usługi.

      Wypełniając niniejszy formularz, wyrażają Państwo zgodę na przetwarzanie danych osobowych przez NOVITERA. Podane dane będą przetwarzane w celu udzielenia informacji. Zgodę na przetwarzanie danych osobowych mogą Państwo wycofać w każdej chwili. Więcej informacji na temat przysługujących Państwu praw oraz zasad przetwarzania danych znajdą Państwo w naszej Polityce prywatności.
      Wysłać

      Interesuje Cię możliwość zakupu analizatora VANTA XRF?

      Wypełnij formularz, a nasz zespół:

      • skontaktuje się z Tobą w ciągu 24 godzin,
      • dokładnie przeanalizuje Twoje potrzeby i przedstawi indywidualne rozwiązanie techniczne wraz z ceną oraz warunkami produkcji i dostawy.

        Wypełniając niniejszy formularz, wyrażają Państwo zgodę na przetwarzanie danych osobowych przez NOVITERA. Podane dane będą przetwarzane w celu udzielenia informacji. Zgodę na przetwarzanie danych osobowych mogą Państwo wycofać w każdej chwili. Więcej informacji na temat przysługujących Państwu praw oraz zasad przetwarzania danych znajdą Państwo w naszej Polityce prywatności.
        Wysłać